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的多只發光二極管所加電壓相同。 圖1 實用簡易光耦芯片測試電路原理圖 led1~led4 和r2~ r5 為對應光耦ic 芯片輸出指示電路，調整rp 的阻值可改變ua 點電壓，供被測光耦芯片內發光二極管的亮度調整，對應光耦芯片內部光敏晶體管的阻值發生變化導致led1~led4 亮度發生變化。rp 逐步減小，對應輸出的led 逐步變亮，以判斷其光耦對應通道的好壞。k1 和k2 為光耦芯片種類測試選擇轉換開關。 二、測試電路的使用方法 在活動插座icx 內放入tlp621 或tlp6214 等系列單路和四路光耦芯片鎖緊，k 閉合，k1 和k2 不動， 逐步調整rp 由大到小，此時a 點電壓ua 可以從0.77~1.10v 變化。對應led1 或led1~led4 將由滅逐步到全亮。反之逐步調整rp 由小到大，對應led1或led1~led4 由全亮到滅，判定被測ic 芯片好。若led1 或led1~led4 不亮，對四通道光耦來說要的亮度可調有的led 不亮，視為ic 芯片損壞或部分損壞。 在icx 內放入高速光耦4n35 等系列芯片鎖緊，4n35 等系列芯片有二種測試方式
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